體驗ZEISS Versa X射線顯微鏡(XRM)的強大功能，它是研究人員和科學家的選擇。蔡司Versa X射線顯微鏡具有直觀的用戶界面，確保每個用戶都能提高工作效率并獲得優異的結果。VersaXRM在實際設置中優先考慮真正的分辨率，為您提供清晰觀察甚至最小細節的能力。蔡司以其穩定性和精確度而聞名，其對質量的承諾在VersaXRM的每個方面都顯而易見，包括VersaXRM 730上的專用ZXR-1 X射線源。相信你的投資會經受住時間的考驗，滿足你未來幾年的需求。

• 分辨率和性能-蔡司VersaXRM 730

• 更快的亞微米成像-蔡司VersaXRM 615

• 靈活性和易用性-蔡司Xradia 515 Versa

VersaXRM 730

蔡司VersaXRM 730提供了比市場上任何高級XRM更廣泛的選擇。該系統提供突破性的分辨率性能，通過直觀的用戶體驗將可訪問性提升到一個新的水平，并通過更快的吞吐量和更快的見效時間來提高生產率。現在標配25W ZXR-1 X射線源。

• 450納米空間分辨率與性能

• ZEN navx以用戶為中心的制導和控制

• 一分鐘斷層攝影和端到端3D

VersaXRM 615

蔡司VersaXRM 615通過創新的光源和光學技術拓展了您的探索極限。更高的通量和基于人工智能的recon以行業分辨率和對比度提供更快的斷層攝影。

• RaaD的空間分辨率為500納米

• 25W X射線源

• FPX使能快速模式

推動科學進步的極限

蔡司Xradia 515 Versa在一個大型平臺上提供了分辨率，打破了3D成像的1微米障礙，使同步加速器口徑的研究對于中型成像中心和工業實驗室更加實用。

• 500納米納米空間分辨率

• 40納米最小可實現體素

• 10瓦快速激活密封源VersaXRM 730

VersaXRM 730

蔡司VersaXRM®730提供亞微米成像，分辨率為450-500納米，電壓范圍為30-160千伏，40倍主物鏡。它的ZEN navx®自動化用戶導航和控制系統以及人工智能驅動的DeepRecon Pro簡化了工作流程，優化了圖像質量，提高了吞吐量。它專為可訪問性而設計，支持廣泛的用戶范圍，為您的整個團隊輕松實現高級研究功能。創新的蔡司專用ZXR-1
VersaXRM 730上的x射線源標準進一步實現了VersaXRM“保護您的投資"的承諾，為持續創新提供了平臺。

VersaXRM 615

使用蔡司VersaXRM 615，為您的科學和工業研究開啟新的多功能度站臺。這款經濟高效的X射線顯微鏡解決方案提供了優良的分辨率和對比度，進一步推動了無損成像技術的發展，從而加快了研究速度。借助創新的X射線源和光學技術，享受保持高質量的快速斷層掃描。無縫的工作流程和基于人工智能的DeepRecon Pro深度學習，有助于在不改變樣品的情況下發現高分辨率的感興趣區域。

推動科學進步的極限

蔡司Versa X射線顯微鏡上的快速模式可通過連續運動掃描對所有樣品進行快速3D圖像采集。與可選的平板探測器(FPX)配合使用，該模式允許在不同角度的X射線圖像采集過程中不間斷地旋轉樣品，消除了傳統的分步拍攝采集的開銷延遲。因此，當曝光時間低于0.5秒時，可以獲得顯著更快的掃描時間，這對于大型、靈敏的FPX檢測器來說是典型的。預期采集時間通常從< 1到5分鐘，對于不太嚴格的圖像質量需求，甚至低于20秒。由于與ZEN navx中的Volume Scout工作流程集成，快速模式可以對所有樣品進行真正的、接近實時的3D導航。快速模式采集與Volume Scout無縫集成，可在復雜樣品中實現近乎即時的反饋和真正的3D導航，到達正確的感興趣區域。