ZEISS METROTOM 1 x射線工業(yè)ct設(shè)備使用方便，可提供精確的三維數(shù)據(jù)，確保由內(nèi)而外的質(zhì)量控制。

產(chǎn)品亮點

快速、直觀且高度精確

ZEISS METROTOM 1為您工作的快速推進保駕護航：無需對零件進行任何預(yù)處理，即可采集精確的3D數(shù)據(jù)。借助計算機斷層掃描技術(shù)，您可以對零件進行無損掃描并查看內(nèi)部結(jié)構(gòu)。能夠測量、分析和檢驗隱蔽缺陷及內(nèi)部結(jié)構(gòu)。與ZEISS INSPECT軟件結(jié)合使用，達到了簡化質(zhì)量控制流程的新境界。

系統(tǒng)結(jié)構(gòu)緊湊、操作簡便，可為您采集任務(wù)數(shù)據(jù)

該系統(tǒng)操作簡便，各類用戶都可以通過該系統(tǒng)開啟測量過程，并獲取精確的數(shù)據(jù)。METROTOM 1體積小巧，可輕松適配您的空間。只需按下按鈕，即可在機構(gòu)內(nèi)部開始測量和檢查。這款智能、緊湊型解決方案配備了封閉式X射線管，旨在降低維護成本。

無需對零件進行任何預(yù)處理即可采集3D數(shù)據(jù)

您可以使用METROTOM 1進行無損掃描，檢驗內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷。無需對零件進行任何預(yù)處理，即可開始測量過程。在掃描下一個零件時，可同時對上一個零件進行檢驗或逆向工程。

多零件掃描

同時測量多個零件是METROTOM 1高效的功能之一。規(guī)則很簡單：大程度地利用測量體積，實現(xiàn)大批量測量。結(jié)果：在確保測量效果的同時，縮短了每個零件的掃描時間。ZEISS INSPECT可自動分離和評估各個零件，從而快速提供測量結(jié)果報告。

檢查內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷

METROTOM 1搭載的ZEISS INSPECT軟件可指導(dǎo)您逐步完成測量過程。憑借體積可視化以及對掃描數(shù)據(jù)的檢驗功能，您可以了解零件的所有尺寸，包括隱藏部分的尺寸信息。通過對零件內(nèi)部和外部結(jié)構(gòu)的掃描，可以輕松對零件進行逆向工程處理。

既簡單又高效。僅需一次掃描。METROTOM 1可為您提供以下支持：

• 對中小型部件進行3D掃描

• 精確測量

• 質(zhì)量檢驗和保證

• 對廢品進行深入分析

• 對照CAD檢查相應(yīng)的部件

智能一體化概念

電壓、功率、曝光時間和步數(shù)是計算機斷層掃描（CT）的一些重要測量參數(shù)。ZEISS METROTOM 1在運行過程中，會依托ZEISS INSPECT自動確定這些參數(shù)值。軟件可為您提供最佳起始值，從而降低掃描設(shè)置的復(fù)雜度。METROTOM 1以操作簡便、采集速度快和評估功能直觀為立足之本。一體化概念值得信賴。

功能特點